思瑞测量croma plus亮相本次技术论坛，因其解决曲面检测难题的技术特性成为现场关注焦点，吸引众多来宾咨询了解。
参会嘉宾们纷纷表示这次交流会让日常工作中很多的疑问得到了解惑，希望思瑞测量后期继续多举办此类的交流会。
现场不仅有测量行业未来发展的深度解析，还带来面向市场热点的最新影像仪、三坐标的案例分享。
思瑞携多款产品及方案亮相本次展会，对外展示思瑞在三坐标测量仪等高精密测量领域深耕、创新的成果。
思瑞测量蓄势待发，将携多种创新测量乐橙电脑的解决方案亮相展会现场，与大家共同探讨智慧制造的未来。
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